兩探針電阻率測試儀是按照SEMI MF397-1106（用兩探針測量電阻率的測量方法）“兩探針法"的要求。適用于測量橫截面尺寸是可測量的，棒的長度與橫截面MAX尺寸之比不小于3：1。橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進(jìn)出，遠(yuǎn)離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀爾帖效應(yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等）。 儀器是由電氣測量、測試臺及兩探針頭組成。儀器具有精度為0.05%的恒流源以及雙數(shù)字表，在測量電阻率的同時，另一塊數(shù)字表監(jiān)測電流變化，儀器還配有恒流開關(guān)，儀器測量軟件配合探頭在硅棒上移動測量，自動計算多點(diǎn)的電阻率、正反向電阻率平均值、電阻率的MAX值、電阻率MIN值，MAX百分變化，測量數(shù)據(jù)存儲在數(shù)據(jù)庫中，可查詢測量數(shù)據(jù)或按條件查詢；提供打印及導(dǎo)出格式供選擇。 規(guī)格參數(shù)： 測量范圍 硅晶體電阻率：0.005-10000Ω·cm 硅棒尺寸：長300mm、直徑20mm（可按要求更改） 恒流源 輸出電流：DC0.001-100mA，五檔可調(diào) 量程范圍：0.001-0.01mA（1-10μA）、0.01-0.1mA（10-100μA）、0.1-1.0mA、1.0-10mA、10-100mA 恒流精度：±0.05% 直流數(shù)字電壓表 測量范圍：0-199.99mV 靈敏度：10μV ：±（0.004%讀數(shù)±0.01%） 輸入阻抗：≥1000MΩ ：≤0.3% 兩探針頭 探針間距：1.59±0.01mm 探針直徑：Φ0.8mm 游移率：＜0.2% 探針材料：硬質(zhì)合金 探針壓力：3±1N/單針 供電電源：AC 220V±10%，50/60Hz 功率范圍：12W 環(huán)境溫度：23±2℃ 相對溫度：≤65% 兩探針電阻率測定儀（測硅芯）
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