 |
地 址:北京市石景山區(qū)城通街26號
電 話:010-89942170/89942167
手 機(jī):15652257065
傳 真:010-89942170
聯(lián)系人:張先生
郵 編:100055
網(wǎng) 址:m.cz-hh.com
E-mail:805247549@qq.com
|
 |
|
|
|
|
 |
 |
| |
|
產(chǎn)品型號: |
NICT-33C |
產(chǎn)品名稱: |
數(shù)字IC測試儀 型號:NICT-33C |
產(chǎn)品報價: |
 |
產(chǎn)品特點(diǎn): |
可對器件好壞判別,型號判別,老化測試,器件代換查詢,內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改,EPROM、EEPROM器件讀出寫入。 |
|
| |
NICT-33C數(shù)字IC測試儀 型號:NICT-33C的詳細(xì)資料: |
| 數(shù)字IC測試儀 型號:NICT-33C | 貨號:ZH9815 | 產(chǎn)品簡介: 可測1300種器件。 可對器件好壞判別,型號判別,老化測試,器件代換查詢,內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改,EPROM、EEPROM器件讀出寫入。 主要功能 器件好壞判別:當(dāng)不知被測器件的好壞時,儀器可判斷其好壞。 器件型號判別:當(dāng)不知被測器件型號時,儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號。 器件老化測試:當(dāng)懷疑被測器件的穩(wěn)定性時,儀器可對其進(jìn)行連續(xù)老化測試。 器件代換查詢:儀器可顯示有邏輯功能*、引腳排列*的器件型號。 內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改:ICT?/FONT>33C可從鍵盤對自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。 EPROM、EEPROM器件讀入:ICT?/FONT>33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。www.centrwin.com EPROM、EEPROM器件寫入:ICT?/FONT>33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中,并自動校驗(yàn)。 可測器件(1300多種) 數(shù)碼管系列:0.5吋共陽[001];共陰[002];0.3吋共陽[003];共陰[004];0.7吋共陽[005];共陰[006]。 |  | |
| 產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: 數(shù)字IC測試儀 型號:NICT-33C |
| 如果你對NICT-33C數(shù)字IC測試儀 型號:NICT-33C感興趣,想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息,填寫下表直接與廠家聯(lián)系: |
|
| |
|
|