 |
地 址:北京市石景山區(qū)城通街26號
電 話:010-89942170/89942167
手 機:15652257065
傳 真:010-89942170
聯(lián)系人:張先生
郵 編:100055
網(wǎng) 址:m.cz-hh.com
E-mail:805247549@qq.com
|
 |
|
|
|
|
 |
 |
| |
|
產(chǎn)品型號: |
WBLH-200J |
產(chǎn)品名稱: |
高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 |
產(chǎn)品報價: |
 |
產(chǎn)品特點: |
本儀器采用了渦流測厚方法,可損的測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯、相交、油漆、塑料等)。內(nèi)置打印機,可打印數(shù)據(jù),有四個統(tǒng)計功能。 |
|
| |
WBLH-200J高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計的詳細資料: |
高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號:WBLH-200J | 貨號:ZH6917 | | 產(chǎn)品簡介 本儀器采用了渦流測厚方法,可損的測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯、相交、油漆、塑料等)。內(nèi)置打印機,可打印數(shù)據(jù),有四個統(tǒng)計功能。 測定方法:高頻渦流式 測定對象:非磁性金屬上緣層 測定范圍:電磁式:0~800um或0~32.0mils 測定精度:<50um±1um >50um±2% 分辨率:<100um 0.1um >100um 1um 界限設(shè)定:可設(shè)定上/下限數(shù)值 測試單位:公/英制互換 顯示方式:LCD數(shù)顯 操作面板:密封防水按鍵 附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說明書 電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個 體積:80(W)×80(D)×30(H) 重量:1100g |  | |
| 產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: 高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 WBLH-200J |
| 如果你對WBLH-200J高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計感興趣,想了解更詳細的產(chǎn)品信息,填寫下表直接與廠家聯(lián)系: |
|
| |
|
|